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Caractérisation microstructurale des matériaux - Analyse par les rayonnements X et électronique

Claude Esnouf

Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur lutilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par lun des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent lensemble de la discipline, depuis lexposé du langage spécialisé de la cristallographie jusquaux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur lusage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou limagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes dimagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation dordre chimique que celle dordre structural. Illustré de nombreux exemples et dexercices résolus, ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle décoles dingénieur, de Master, ainsi que pour les praticiens désireux dapprofondir leurs connaissances dans le domaine.

Analyse et Caractérisation des matériaux par Diffraction des Rayons X (DRX) en Laboratoire Qu'est-ce que la Diffraction des Rayons X ? La Diffraction des Rayons X (DRX) est une technique d'analyse qui permet détudier les différentes phases de matières et matériaux cristallins. Si l'analyse élémentaire permet d’identifier et de quantifier les éléments chimiques constitutifs d’un

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9782880748845 ISBN
Libre PRIX
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Sofya Voigtuh

Caractérisation des matériaux Analyse structurale et chimique des matériaux, J.P. Eberhart, Ed. Dunod, Paris (1997) La microscopie électronique, C Colliex, Editions Que sais je (1996) n° 1045 Caractérisation microstructurale des matériaux: Analyse par rayonnements X et électronique C. Esnouf (2011) Editeur : PPUR

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Mattio Müllers

Découvrez sur decitre.fr Caractérisation microstructurale des matériaux - Analyse par les rayonnements X et électronique par Claude Esnouf - Collection METIS LyonTech - Librairie Decitre

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Noels Schulzen

Caractérisation des matériaux par analyse combinée Luca Lutterottia,b, Daniel Chateignerb, Au départ centrée sur l'analyse par diffraction de rayonnements, celle-ci s'étend à d'autres types d'analyses. Pour l'instant, nous avons réussi à combiner différentes techniques quantitatives de diffraction X, neutrons et électrons, en un outil puissant capable d’analyser simultanément Ingénieur de recherche en tomographie X et caractérisation ...

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Jason Leghmann

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Jessica Kolhmann

Caract•risation microstructurale des Mat•riaux – Analyse par les rayonnements X et •lectronique. Par Claude ESNOUF BrochÄ Paru le 1er septembre 2011 Editeur : PPUR Collection : METIS LyonTech ISBN : 978-2-88074-884-5 Nb. de pages : 579 pages Dimensions : 16cm x 24cm x 3cm TABLE DES MATIERES AVANT-PROPOS INTRODUCTION CHAPITRE 1 : ELEMENTS DE CRISTALLOGRAPHIE 1.1 R•seau de …