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Caractérisation microstructurale des matériaux - Analyse par les rayonnements X et électronique

Claude Esnouf

Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur lutilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par lun des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent lensemble de la discipline, depuis lexposé du langage spécialisé de la cristallographie jusquaux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur lusage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou limagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes dimagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation dordre chimique que celle dordre structural. Illustré de nombreux exemples et dexercices résolus, ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle décoles dingénieur, de Master, ainsi que pour les praticiens désireux dapprofondir leurs connaissances dans le domaine.

Analyse et Caractérisation des matériaux par Diffraction des Rayons X (DRX) en Laboratoire Qu'est-ce que la Diffraction des Rayons X ? La Diffraction des Rayons X (DRX) est une technique d'analyse qui permet détudier les différentes phases de matières et matériaux cristallins. Si l'analyse élémentaire permet d’identifier et de quantifier les éléments chimiques constitutifs d’un

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9782880748845 ISBN
Libre PRIX
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Discipline/ Spécialité : Matériaux Céramiques et Traitements de Surface Perrine DUTHEIL le 24 Mai 2012 Films minces et multicouches de matériaux piézoélectriques : synthèse par ablation laser ; caractérisation microstructurale et intégration dans des dispositifs SAW. Thèse dirigée par Corinne CHAMPEAUX et Alain CATHERINOT RAPPORTEURS:

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Caracterisation microstructurale des materiaux : analyse par les rayonnements X et electronique. Lausanne : Presses polytechniques et universitaires romandes, 2011. ISBN 9782880748845. 620.112 7 ESN car Ouvrage résumant l'ensemble des bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux utilisant les rayonnements X et électroniques : cela va du langage spécialisé de la